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Produktdetails
- Autor
- Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach
High-Resolution X-Ray Scattering
- Untertitel
- From Thin Films to Lateral Nanostructures
- Verlag
- Springer US
- ISBN/EAN
- 978-1-4419-2307-3
- Preis
- 96,29 EUR
- Status
- lieferbar
