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Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III

Autor
Herausgegeben von A. Benninghoven, Herausgegeben von J. Giber, Herausgegeben von J. Laszlo, Herausgegeben von M. Riedel, Herausgegeben von H.W. Werner

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III

Untertitel
Proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30–September 5, 1981
Verlag
Springer Berlin
ISBN/EAN
978-3-642-88154-1
Preis
106,99 EUR
Status
lieferbar