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Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Autor
Herausgegeben von A. Benninghoven, Herausgegeben von C.A. Jr. Evans, Herausgegeben von R.A. Powell, Herausgegeben von R. Shimizu, Herausgegeben von H.A. Storms

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Untertitel
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979
Verlag
Springer Berlin
ISBN/EAN
978-3-642-61871-0
Preis
96,29 EUR
Status
lieferbar